上光六廠光切法顯微鏡9J

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固話:021-80122208

傳真:021-63450333

Q Q:800072208

  • 品 牌 上光六廠|SOIF
  • 型號 9J
  • 配 送 方 式 廠商直接發(fā)貨
  • 數(shù)量
聯(lián)系銷售顧問
商品詳情

顯微鏡特點:
顯微鏡9J是以光切測量另件加工表面的微觀不平度。其能判國家標準GB1031-68所規(guī)定▽3-▽9級表面光潔度。(表面粗糙度12.5-0.2)對于表面劃痕、刻線或某些缺陷的深度也可用來進行測量。

技術參數(shù):
1.本儀器在原有的基礎上進行了光學系統(tǒng)升級,明場成像更清晰,避免看不清測量讀數(shù)刻線。
2.配備粗微動同軸調焦系統(tǒng),粗動松緊可調,微動格值:2μm,使之更加準確的找到成像面。
3.一體化結構機身,無需另配變壓電源,操作簡潔、方便。
4. 非接觸式測量,不會破壞樣品表面層,經(jīng)過計算后確定紋痕的不平度。

類型 

9J

測量范圍不平度平均高度值(微米)

>0.8-1.6

>1.6-6.3

>6.3-20

>20-80

表面光潔度(級別)

9

8~7

6~5

4~3

所需物鏡

60X/0.55

30X/0.40

14 X/0.20

7X/0.12

總放大倍數(shù)

510X

260X

120X

60X

物鏡組件工作距離(mm)

0.04

0.2

2.5

9.5

視場(mm)

0.3

0.6

1.3

2.5

攝影裝置放大倍數(shù)

約6倍

測量不平度范圍

(0.8-80)微米

不平寬度

用測微目鏡:0.7微米-2.5毫米

用座標工作臺:(0.01-13)毫米

儀器重量約

23公斤

外形尺寸(mm)

約180*290*470毫米