彼愛姆FM-Nanoview1000AFM原子力顯微鏡

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固話:021-80122208

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Q Q:800072208

  • 品 牌 彼愛姆|BM
  • 型號 FM-Nanoview1000AFM
  • 配 送 方 式 麥儀自營
  • 數(shù)量
聯(lián)系銷售顧問
商品詳情

功能特點

1.光機電一體化設(shè)計,外形結(jié)構(gòu)簡單;

2.掃描探頭和樣品臺集成一體,抗干擾能力強;

3.精密激光檢測及探針定位裝置,光斑調(diào)節(jié)簡單,操作方便;

4.采用精密探針定位模塊,更換探針簡單方便

5.采用樣品趨近探針方式,使針尖垂直于樣品掃描;

6.伺服馬達手動或自動脈沖控制,驅(qū)動樣品垂直接近探針,實現(xiàn)掃描區(qū)域精確定位;

7.高精度大范圍的樣品移動裝置,可自由移動感興趣的樣品掃描區(qū)域;

8.高精度大范圍的壓電陶瓷掃描器,根據(jù)不同精度和掃描范圍要求選擇;

9.帶光學(xué)定位的CCD觀察系統(tǒng),實時觀測與定位探針掃描樣品區(qū)域

10.模塊化的電子控制系統(tǒng)設(shè)計,便于電路的持續(xù)改進與維護;

11.集成多種掃描工作模式控制電路,配合軟件系統(tǒng)使用。

12.彈簧懸掛式防震方式,簡單實用,抗干擾能力強

操作功能

1. 可自由選擇圖像采樣點為256×256或512×512

2. 多通道圖像同步采集顯示,實時查看剖面圖

3. 可進行掃描區(qū)域偏移、剪切功能,任意選擇感興趣的樣品區(qū)域

4. 可任意選擇樣品起始掃描角度

5. 激光光斑檢測系統(tǒng)的實時調(diào)整功能

6. 可任意定義掃描圖像的色板功能

7. 支持樣品傾斜線平均、偏置實時校正功能

8. 支持掃描器靈敏度校正和電子學(xué)控制器自動校正

9. 支持樣品圖片離線分析與處理功能


技術(shù)規(guī)格

名 稱參 數(shù)名 稱參 數(shù)
工作模式

1. 接觸、輕敲、相位、摩擦力、磁力或靜電力

掃描角度任意
樣品尺寸Φ≤90mm;H≤20mm樣品移動范圍0~20mm
最大掃描范圍橫向20um,縱向2um馬達趨近脈沖寬度10±2m
掃描分辨率橫向0.2nm,縱向0.05nm光學(xué)放大倍數(shù)4X
掃描速率0.6Hz~4.34Hz光學(xué)分辨率2.5um
掃描控制XY采用18-bit D/A
Z采用16-bit D/A
圖像采樣點256×256,512×512
數(shù)據(jù)采樣14-bit A/D、雙16-bit A/D
多路同步采樣
反饋方式DSP數(shù)字反饋
計算機接口USB2.0反饋采樣速率64.0KHz
運行環(huán)境運行于WindowsXP/7/8操作系統(tǒng)